可配置产测

更新时间:2023-04-19 02:31:16下载pdf

本文档描述如何进行新成品产测。

可配置产测模式

  1. 准备 2.4G 信号的路由器:3 台。
    必须是 2.4G 信号的路由器,无须外网连接,通电即可。推荐使用 TP-LINK 2.4G 路由器。

  2. 将路由器 1 的 SSID 设置为:tuya_fct1_M?N?
    必须确保设置成功,可用手机的 Wi-Fi 功能查看是否设置成功。是否设置密码都可以。

  3. 将路由器 2 的 SSID 设置为:tuya_aging_xxx(具体参考 SSID 命名规则)。
    必须确保设置成功,可用手机的 Wi-Fi 功能查看是否设置成功。是否设置密码都可以。

  4. 将路由器 3 的 SSID 设置为:tuya_fct2_M?N?
    必须确保设置成功,可用手机的 Wi-Fi 功能查看是否设置成功。是否设置密码都可以。

  5. 将路由器放置在待测产品附近,距离测架 3-5 米左右为佳。

  6. 测试环境中,非测试路由器数量尽量少,以加快产测速度。

  7. 已配网的设备,需在 App 内移除设备后,等待 10 秒,断电。

产测优先级排序

  1. 设备需要处于未激活状态,或者激活后持续工作时间在 15 分钟以内。超过 15 分钟后,设备会主动关闭所有产测入口。

  2. 在成品 Wi-Fi 扫描流程中,使用固定 6 信道下 Sniffer 模式,减少无效报文交互。

  3. 产测路由器优先级排序 test4 > fct1(fct1 之后继续 aging,aging 之后根据 SSID 决定进 test5 还是 fct2)> test1(test1 之后继续 test2)> test5 > fct2。

    • fct1 和 test1 只能二选一。
    • test5 和 fct2 同时存在时,优先进 test5 产测。当设备执行过 test5 或者 fct2 时,再次上电依旧遵循 test5 和 fct2 同时存在时优先进 test5 产测逻辑。
  4. 首次进入产测,会按 test4 > fct1 > test1 > test5 顺序,依次搜索 SSID。如果 4 个 SSID 都没有,则进行错误灯光提示。如果没有找到目标 SSID,进行灯光错误提示。

  5. 现有经典成品产测流程中使用了 tuya_mdev_test1tuya_mdev_test2 这两个 Wi-Fi 信标。为了防止 Wi-Fi 信号互相干扰,test1 流程只能完整执行一次,test2 流程可以重复执行。在 test1 流程没有执行前,test2 不会执行。

    test1、test2 下连续三次进入产测(每次时间 <5s),第三次退回到模块出厂状态,可重新进入产测。

  6. 可配置成品产测流程中,可选部署 tuya_fct1_xxxtuya_aging_xxxxtuya_fct2_xxxtuya_mdev_test4tuya_mdev_test5 这五个 Wi-Fi 信标。

    • 为了防止 Wi-Fi 信号互相干扰,fct1 流程和 aging 流程只能完整执行一次,fct2 流程、test4 流程和 test5 流程可以重复执行。
    • fct1、aging、fct2 下连续三次进产测(每次时间 <5s),第三次退回到模块出厂状态,可重新进产测。
    • fct1 流程完整执行后,才可以执行 aging 流程,aging 流程完整执行之后才可以执行 fct2 流程或者 test5 流程。
    • test4 流程为优先级最高的流程,随时可以进入。
    • test5 流程和 fct2 流程相互排斥,如果两个信标同时存在,优先执行 test5 流程。
  7. 经典成品产测流程和可配置成品产测流程相互独立。工厂可以根据实际情况,任意选择部署 test1、test2 信标组合或者 fct1、aging、test5/fct2 信标组合,最好不要混合部署。如果需要混合部署,设备在 Wi-Fi 扫描流程中,会优先进入 fct1 流程。

  8. 如果产测过程中没有找到目标 SSID,进行灯光错误提示。

    • 重复进产测是指重复进入初始状态,支持重复进产测的环节是 fct1、aging、fct2、test1 和 test2。重复进入产测之后,可以同时支持 Test1 和 fct1 产测 SSID。
    • 涂鸦 IoT 开发平台 硬件配置项中,配置是否可重复进产测。配置可重复进入产测对经典产测和可配置老化产测同时生效。
    • 可配置老化产测过程中,如果同一 SSID(支持 test1、test2、fct1、aging 和 fct2)下连续三次进入产测(每次时间 <5s),第三次退回到模块出厂状态,可重新进产测。